CHY-CA薄膜纸张测厚仪的详细资料:
薄膜纸张测厚仪
薄膜纸张测厚仪,又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等,薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
高精薄膜测厚仪对各种薄膜精确测量厚度、均匀性、薄膜弹性模量等,并且可以与计算机连接通讯,实现数据自动处理,从而提高了检验速度,减轻了检测人员的劳动强度。该仪器对环境温度波动不敏感,经济实用,适合于各种薄膜企业的工艺控制和计量检测单位或部门的检测使用。
测试原理 机械接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测量头自动降落于试样之上,在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。 该设备满足多项国家和国际标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
技术指标 测试范围 :0~2 mm(常规)、0~6 mm、12 mm(可选) 分 辨 率 :0.1 μm 测量速度 :10 次/min (可调) 测试压力 :17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张) 接触面积 :50mm²(薄膜);200mm²(纸张)注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制 进样步距 :0~1000 mm 进样速度 :0.1~99.9 mm/s 电源 :AC 220V 50Hz 外形尺寸 :461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H) 净重 :32 kg |
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